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Electronique de base
C20-E3/EV
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Expériences de Haynes et Shockley
F-HS/EV
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Matériaux semi-conducteurs: mesure de l’énergie de gap
F-SEG/EV
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F-RTD/EV
Le système est composé de un cryostat fabriqué à partir d’un vase de Dewar contenant 3 échantillons et une unité de contrôle qui fournit l’énergie au […]
C20-E3/EV
Le Mod. est le support pour la réalisation des exercices de laboratoire d’électronique de base. Il permet d’effectuer une vaste gamme d’expériences: la résistance électrique, le […]
F-HS/EV
L’expérience Haynes-Shockley permet de mesurer la mobilité de dérive des électrons et des trous dans les semiconducteurs. C’est une expérience d’une grande valeur éducative, car elle […]
F-SEG/EV
Dans cette expérience, il est proposé d’obtenir une estimation de l’énergie de gap de matériaux semiconducteurs (Ge et Si) à la température ambiante, en produisant des […]