Elettronica

- Elettronica di base
- C20-E3/EV
  
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  Il Modulo costituisce il supporto per lo svolgimento delle esercitazioni di Laboratorio di Elettronica di base. Permette una vasta gamma di sperimentazioni: la resistenza elettrica, il […]
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- Esperimento di Haynes e Shockley
- F-HS/EV
  
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  L’esperimento di Haynes-Shockley consente di misurare la mobilità di deriva di elettroni e lacune nei semiconduttori. Si tratta di un esperimento di grande valore didattico perchè […]
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- Materiali semiconduttori: misura dell’energy gap
- F-SEG/EV
  
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  In questo esperimento, ci si propone di ricavare una stima dell’energy gap di materiali semiconduttori (Ge e Si) a temperatura ambiente, producendo coppie elettrone-vacanza attraverso l’effetto […]
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- Misura della resistenza in funzione della temp. In campioni conduttivi
- F-RTD/EV
  
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  Il Sistema è composto un criostato fatto da un vaso dewar che contiene 3 campioni e un’unità di controllo che fornisce l’alimentazione per il riscaldatore, per […]
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